Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells

Editat de Daniel Abou–Ras, Thomas Kirchartz, Uwe Rau

en Limba Engleză Hardback – 30 aug 2016

The book focuses on advanced characterization methods for thin-fi lm solar cells that have proven their relevance both for academic and corporate photovoltaic research and development.

Citește tot Restrânge

Preț: 1558^.60 lei

Preț vechi: 1812^.32 lei
-14% Nou

Puncte Express: 2338

:
298^.30€ • 314^.69$ • 248^.59£

Carte disponibilă

Livrare economică 12-26 decembrie
Livrare express 27 noiembrie-03 decembrie pentru 86^.47 lei

Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9783527339921
ISBN-10: 3527339922
Pagini: 760
Dimensiuni: 179 x 250 x 46 mm
Greutate: 1.91 kg
Ediția:2nd Edition
Editura: Wiley Vch
Locul publicării:Weinheim, Germany

Public țintă

Materials Scientists, Semiconductor Physicists, Semiconductor Industry, Surface Physicists, Surface Chemists, Electrical Engineers, Engineering Scientists in Industry, Libraries

Papetărie, jocuri, reviste

Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells

Preț: 1558.60 lei

Specificații

V-ar putea interesa

Public țintă

Preț: 1558^.60 lei