Advanced Characterization Techniques for Thin Film Solar Cells
Editat de Daniel Abou–Ras, Thomas Kirchartz, Uwe Rauen Limba Engleză Hardback – 30 aug 2016
Preț: 1558.60 lei
Preț vechi: 1812.32 lei
-14% Nou
Puncte Express: 2338
Preț estimativ în valută:
298.28€ • 309.84$ • 247.77£
298.28€ • 309.84$ • 247.77£
Carte disponibilă
Livrare economică 13-27 ianuarie 25
Livrare express 27 decembrie 24 - 02 ianuarie 25 pentru 86.47 lei
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783527339921
ISBN-10: 3527339922
Pagini: 760
Dimensiuni: 179 x 250 x 46 mm
Greutate: 1.91 kg
Ediția:2nd Edition
Editura: Wiley Vch
Locul publicării:Weinheim, Germany
ISBN-10: 3527339922
Pagini: 760
Dimensiuni: 179 x 250 x 46 mm
Greutate: 1.91 kg
Ediția:2nd Edition
Editura: Wiley Vch
Locul publicării:Weinheim, Germany