Advances in X-Ray Analysis: Volume 29
Editat de Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predeckien Limba Engleză Hardback – 29 iun 1986
Preț: 1238.56 lei
Preț vechi: 1510.44 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1858
Preț estimativ în valută:
237.02€ • 245.96$ • 198.11£
237.02€ • 245.96$ • 198.11£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 18 martie-01 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780306422874
ISBN-10: 0306422875
Pagini: 600
Ilustrații: XVIII, 600 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 33 mm
Greutate: 1.04 kg
Ediția:1986
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306422875
Pagini: 600
Ilustrații: XVIII, 600 p.
Dimensiuni: 156 x 234 x 33 mm
Greutate: 1.04 kg
Ediția:1986
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States