Advances in X-Ray Analysis: Volume 27
Autor Jerome B. Cohenen Limba Engleză Paperback – 2 oct 2011
Preț: 405.60 lei
Nou
Puncte Express: 608
Preț estimativ în valută:
77.63€ • 81.44$ • 64.40£
77.63€ • 81.44$ • 64.40£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 29 ianuarie-12 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781461297130
ISBN-10: 1461297133
Pagini: 600
Ilustrații: 596 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 32 mm
Greutate: 1.03 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1984
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461297133
Pagini: 600
Ilustrații: 596 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 32 mm
Greutate: 1.03 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1984
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. J. D. Hanawalt Award Session On Search/Match Methods.- II. X-Ray Strain and Stress Determination.- III. Position Sensitive Detectors and X-Ray Instrumentation.- IV. Quantitative Phase Analysis by XRD.- V. Other XRD Applications.- VI. J. Gilfrich Honorary Session on Trends in XRF Instrumentation.- VII. Mathematical Models and Computer Applications in XRF.- VIII. Applications of XRF to Archeological, Geochemical and Industrial Materials.- IX. Other XRF Applications.- Author Index.