AlGaN/GaN HEMTs Reliability. Degradation Modes and Analysis de Ponky Ivo

AlGaN/GaN HEMTs Reliability. Degradation Modes and Analysis: Innovationen mit Mikrowellen und Licht. Forschungsberichte aus dem Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik 23

Autor Ponky Ivo

en Limba Engleză Paperback – 24 oct 2012

Preț: 173^.43 lei

Nou

Puncte Express: 260

:
33^.19€ • 34^.52$ • 27^.82£

Carte disponibilă

Livrare economică 21 februarie-07 martie

Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9783954042593
ISBN-10: 3954042592
Pagini: 132
Dimensiuni: 148 x 210 x 8 mm
Greutate: 0.17 kg
Editura: Cuvillier
Colecția Innovationen mit Mikrowellen und Licht. Forschungsberichte aus dem Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik 23
Seria Innovationen mit Mikrowellen und Licht. Forschungsberichte aus dem Ferdinand-Braun-Institut, Leibniz-Institut für Höchstfrequenztechnik 23