An Introduction to Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (Tof-Sims) and Its Application to Materials Science: Physical Principles, Related Applications, and Ongoing Developments: Iop Concise Physics
Autor Sarah Fearnen Limba Engleză Paperback – 15 oct 2015
Din seria Iop Concise Physics
- 5% Preț: 390.45 lei
- Preț: 238.42 lei
- Preț: 475.56 lei
- 20% Preț: 237.47 lei
- Preț: 413.95 lei
- Preț: 348.08 lei
- Preț: 277.79 lei
- Preț: 314.28 lei
- Preț: 416.60 lei
- Preț: 278.99 lei
- Preț: 238.21 lei
- Preț: 310.83 lei
- Preț: 238.60 lei
- Preț: 312.57 lei
- Preț: 244.19 lei
- Preț: 271.88 lei
- 15% Preț: 694.61 lei
- 5% Preț: 774.47 lei
- 5% Preț: 777.61 lei
- 15% Preț: 695.07 lei
Preț: 240.11 lei
Nou
Puncte Express: 360
Preț estimativ în valută:
45.95€ • 47.91$ • 38.19£
45.95€ • 47.91$ • 38.19£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 21 martie-04 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781681740249
ISBN-10: 1681740249
Pagini: 68
Dimensiuni: 178 x 254 x 5 mm
Greutate: 0.18 kg
Editura: Morgan & Claypool
Seria Iop Concise Physics
ISBN-10: 1681740249
Pagini: 68
Dimensiuni: 178 x 254 x 5 mm
Greutate: 0.18 kg
Editura: Morgan & Claypool
Seria Iop Concise Physics