Built In Test for VLSI – Pseudorandom Techniques Techn (Prev.Built–in Pseud Test of Digit Cir)
Autor PH Bardellen Limba Engleză Hardback – dec 1987
Preț: 1544.92 lei
Preț vechi: 1697.71 lei
-9% Nou
Puncte Express: 2317
Preț estimativ în valută:
295.70€ • 307.54$ • 247.79£
295.70€ • 307.54$ • 247.79£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 13-27 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780471624639
ISBN-10: 0471624632
Pagini: 368
Dimensiuni: 181 x 240 x 26 mm
Greutate: 0.66 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
ISBN-10: 0471624632
Pagini: 368
Dimensiuni: 181 x 240 x 26 mm
Greutate: 0.66 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
Notă biografică
Descriere
Presents the major concepts, techniques, problems and solutions in the emerging field of pseudorandom pattern testing. The intention of this book is to present the material in a unified manner, making it a useful source for practising professionals and students.