Cette etude porte sur l'application d'une technique de mesure optique sans contact physique pour la caracterisation de la deformation mecanique induite des isolants organiques solides au cours de l'application d'un champ electrique. Des films (PEN) de differents degres de cristallinite ont ete soumis a un fort champ electrique constante jusqu'au claquage electrique. Cette technique non destructive basee sur le suivi de quatre marqueurs a ete utilisee. Elle donne acces a la loi de comportement et a la relation entre la reponse electromecanique et la mise en evidence d'une zone faible detectee sur la surface de l'echantillon situee au centre du claquage filme.Les courbes obtenues sont dependantes des conditions experimentales, de la morphologie et de la microstructure des films PEN testes.Les resultats montrent que la deformation induite diminue quand le pourcentage decristallinite augmente, ainsi que la rigidite dielectrique que peut atteindre le film PEN avant le claquage electrique. De plus cette etude nous a permis de valider des mecanismes qui ont ete consideres comme les precurseurs du claquage electrique et les phenomenes de vieillissement."