Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Editat de Filip Tuomistoen Limba Engleză Hardback – 16 dec 2019
Preț: 927.19 lei
Preț vechi: 1130.72 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1391
Preț estimativ în valută:
177.53€ • 184.86$ • 147.29£
177.53€ • 184.86$ • 147.29£
Carte disponibilă
Livrare economică 23 ianuarie-06 februarie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781785616556
ISBN-10: 1785616552
Pagini: 596
Dimensiuni: 163 x 239 x 33 mm
Greutate: 1.09 kg
Editura: Institution of Engineering and Technology
ISBN-10: 1785616552
Pagini: 596
Dimensiuni: 163 x 239 x 33 mm
Greutate: 1.09 kg
Editura: Institution of Engineering and Technology