Characterisation and Control of Defects in Semiconductors
Editat de Filip Tuomistoen Limba Engleză Hardback – 15 dec 2019
Preț: 907.38 lei
Preț vechi: 1106.55 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1361
Preț estimativ în valută:
173.66€ • 183.20$ • 144.72£
173.66€ • 183.20$ • 144.72£
Carte disponibilă
Livrare economică 12-26 decembrie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781785616556
ISBN-10: 1785616552
Pagini: 596
Dimensiuni: 163 x 239 x 33 mm
Greutate: 1.09 kg
Editura: Institution of Engineering and Technology
ISBN-10: 1785616552
Pagini: 596
Dimensiuni: 163 x 239 x 33 mm
Greutate: 1.09 kg
Editura: Institution of Engineering and Technology