CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability: SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
Autor Jiann-Shiun Yuanen Limba Engleză Paperback – 21 apr 2016
Din seria SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology
- Preț: 406.84 lei
- 17% Preț: 360.33 lei
- Preț: 368.67 lei
- Preț: 372.44 lei
- Preț: 141.23 lei
- 20% Preț: 319.71 lei
- Preț: 371.48 lei
- Preț: 195.87 lei
- 20% Preț: 293.83 lei
- Preț: 401.19 lei
- Preț: 338.00 lei
- Preț: 355.48 lei
- Preț: 259.41 lei
- Preț: 374.64 lei
- Preț: 372.44 lei
- Preț: 355.65 lei
- 20% Preț: 220.71 lei
- 20% Preț: 386.11 lei
- Preț: 370.52 lei
- Preț: 370.52 lei
- Preț: 369.99 lei
- Preț: 370.36 lei
- 20% Preț: 301.85 lei
- 15% Preț: 453.19 lei
- Preț: 141.98 lei
- Preț: 369.62 lei
- Preț: 355.92 lei
- Preț: 375.26 lei
- Preț: 370.52 lei
- Preț: 370.52 lei
- Preț: 338.00 lei
- Preț: 372.44 lei
- Preț: 372.65 lei
- Preț: 306.42 lei
- Preț: 375.26 lei
- Preț: 356.42 lei
- Preț: 369.03 lei
- Preț: 404.02 lei
- Preț: 470.02 lei
- Preț: 369.03 lei
- Preț: 273.63 lei
- 20% Preț: 318.12 lei
- Preț: 435.58 lei
- 20% Preț: 282.94 lei
- Preț: 256.59 lei
- Preț: 374.30 lei
- 20% Preț: 315.69 lei
- Preț: 410.85 lei
- Preț: 372.06 lei
- Preț: 366.78 lei
Preț: 370.15 lei
Nou
Puncte Express: 555
Preț estimativ în valută:
70.84€ • 73.58$ • 58.84£
70.84€ • 73.58$ • 58.84£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 03-17 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9789811008825
ISBN-10: 9811008825
Pagini: 106
Ilustrații: VI, 106 p. 101 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 6 mm
Greutate: 0.17 kg
Ediția:1st ed. 2016
Editura: Springer Nature Singapore
Colecția Springer
Seriile SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, SpringerBriefs in Reliability
Locul publicării:Singapore, Singapore
ISBN-10: 9811008825
Pagini: 106
Ilustrații: VI, 106 p. 101 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 6 mm
Greutate: 0.17 kg
Ediția:1st ed. 2016
Editura: Springer Nature Singapore
Colecția Springer
Seriile SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology, SpringerBriefs in Reliability
Locul publicării:Singapore, Singapore
Cuprins
CMOS Transistor Reliability and Variability.- Wireless Receiver and Transmitter Circuit Reliability.- Low Noise Amplifier Reliability and Variability.- Power Amplifier Reliability and Variability.- Voltage Controlled Oscillator Reliability and Variability.- Mixer Reliability.
Caracteristici
First book to address the effect of device reliability and process variations on the RF circuit performance degradations Present of all kinds RF circuits in the reliability examination Includes analytical equations, experimental data and simulation results Includes supplementary material: sn.pub/extras