Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric Hfo2 Thin Films: Research at Namlab, cartea 4
en Limba Engleză Paperback
Preț: 442.43 lei
Nou
Puncte Express: 664
Preț estimativ în valută:
84.67€ • 87.95$ • 70.33£
84.67€ • 87.95$ • 70.33£
Indisponibil temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783832540036
ISBN-10: 3832540032
Pagini: 179
Greutate: 0.44 kg
Editura: Logos Verlag Berlin
Seria Research at Namlab
ISBN-10: 3832540032
Pagini: 179
Greutate: 0.44 kg
Editura: Logos Verlag Berlin
Seria Research at Namlab