Electromigration and Electronic Device Degradation
Autor A. Christouen Limba Engleză Hardback – 6 feb 1994
Preț: 1493.38 lei
Preț vechi: 1641.08 lei
-9% Nou
Puncte Express: 2240
Preț estimativ în valută:
285.80€ • 296.87$ • 237.40£
285.80€ • 296.87$ • 237.40£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 03-17 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780471584896
ISBN-10: 0471584894
Pagini: 344
Dimensiuni: 164 x 239 x 25 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
ISBN-10: 0471584894
Pagini: 344
Dimensiuni: 164 x 239 x 25 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
V-ar putea interesa
-
Practical Reliability Engineering 5ePDT O′Connor-20%Preț: 431.31 lei539.13 lei -
Semiconductor Device ReliabilityA. Christou-18%Preț: 1798.72 lei2193.57 lei -
The Reliability of Mechanical SystemsJ. Davidson-24%Preț: 815.93 lei1073.59 lei -
-9%Preț: 818.09 lei899.00 lei -
Occupational Injuries From Electrical Shock and Arc Flash EventsRichard B. CampbellPreț: 369.23 lei -
-22%Preț: 360.24 lei463.33 lei -
Preț: 467.20 lei -
-18%Preț: 717.57 lei875.09 lei -
-15%Preț: 626.80 lei737.40 lei -
-15%Preț: 630.83 lei742.15 lei -
Development of a Cyber Physical System for Fire SafetyRosalie Faith WillsPreț: 347.15 lei -
-15%Preț: 633.23 lei744.98 lei -
-18%Preț: 875.73 lei1067.97 lei -
-11%Preț: 430.88 lei484.13 lei -
Tritium: Fuel of Fusion ReactorsTetsuo Tanabe-18%Preț: 1095.33 lei1335.77 lei -
-24%Preț: 1700.67 lei2237.73 lei
Notă biografică
Descriere
This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.