Electromigration and Electronic Device Degradation
Autor A. Christouen Limba Engleză Hardback – 6 feb 1994
Preț: 1443.59 lei
Preț vechi: 1586.36 lei
-9% Nou
Puncte Express: 2165
Preț estimativ în valută:
276.35€ • 301.05$ • 231.83£
276.35€ • 301.05$ • 231.83£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 19 decembrie 24 - 02 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780471584896
ISBN-10: 0471584894
Pagini: 344
Dimensiuni: 164 x 239 x 25 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
ISBN-10: 0471584894
Pagini: 344
Dimensiuni: 164 x 239 x 25 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: Wiley
Locul publicării:Hoboken, United States
Notă biografică
Descriere
This study reviews an important reliability issue for both silicon and GaAs technologies. It surveys the status of electromigration physics in microelectronics, and summarizes various rate controlling details.