EXAFS and Near Edge Structure: Proceedings of the International Conference Frascati, Italy, September 13–17, 1982: Springer Series in Chemical Physics, cartea 27
Editat de A. Bianconi, L. Inoccia, S. Stipcichen Limba Engleză Paperback – iul 2012
Din seria Springer Series in Chemical Physics
- 20% Preț: 585.29 lei
- 15% Preț: 632.17 lei
- 15% Preț: 625.26 lei
- 18% Preț: 936.95 lei
- 15% Preț: 633.78 lei
- 15% Preț: 627.68 lei
- 15% Preț: 638.28 lei
- 15% Preț: 636.50 lei
- 15% Preț: 628.14 lei
- 15% Preț: 641.32 lei
- 15% Preț: 627.68 lei
- 15% Preț: 626.41 lei
- 18% Preț: 936.51 lei
- 18% Preț: 931.86 lei
- 15% Preț: 625.74 lei
- 15% Preț: 638.91 lei
- 18% Preț: 937.56 lei
- 18% Preț: 878.93 lei
- 15% Preț: 636.36 lei
- 18% Preț: 1227.91 lei
- 15% Preț: 635.42 lei
- 18% Preț: 938.04 lei
- 24% Preț: 1226.80 lei
- 18% Preț: 945.50 lei
- 18% Preț: 985.39 lei
- 24% Preț: 647.23 lei
- 18% Preț: 873.48 lei
- 18% Preț: 892.71 lei
- 15% Preț: 630.60 lei
- 15% Preț: 575.56 lei
- 15% Preț: 629.13 lei
- 18% Preț: 881.88 lei
Preț: 636.36 lei
Preț vechi: 748.66 lei
-15% Nou
Puncte Express: 955
Preț estimativ în valută:
121.84€ • 126.88$ • 101.09£
121.84€ • 126.88$ • 101.09£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 13-27 februarie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783642501005
ISBN-10: 3642501001
Pagini: 436
Ilustrații: XII, 422 p. 193 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 23 mm
Greutate: 0.61 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1983
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Chemical Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3642501001
Pagini: 436
Ilustrații: XII, 422 p. 193 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 23 mm
Greutate: 0.61 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1983
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Chemical Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Historical Perspective of EXAFS and Near Edge Structure Spectroscopy.- I Theoretical Aspects of EXAFS and XANES.- II EXAFS Data Analysis.- III XANES.- IV Special Crystalline Systems.- V Liquids and Disordered Systems.- VI Catalysts.- VII Biological Systems.- VIII Related Techniques — Anomalous Scattering.- IX Related Techniques — Electron Energy Loss.- X Instrumentation.- Index of Contributors.