Integrationstechniken für Feldeffekttransistoren mit halbleitenden Nanopartikeln: Einzel- und Multipartikel-Bauelemente
Autor Karsten Wolffde Limba Germană Paperback – 28 iun 2011
Preț: 430.04 lei
Preț vechi: 505.92 lei
-15% Nou
Puncte Express: 645
Preț estimativ în valută:
82.32€ • 86.41$ • 67.100£
82.32€ • 86.41$ • 67.100£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 31 ianuarie-14 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783834817679
ISBN-10: 3834817678
Pagini: 254
Ilustrații: XXIV, 228 S. 110 Abb.
Dimensiuni: 148 x 210 x 20 mm
Greutate: 0.31 kg
Ediția:2011
Editura: Vieweg+Teubner Verlag
Colecția Vieweg+Teubner Verlag
Locul publicării:Wiesbaden, Germany
ISBN-10: 3834817678
Pagini: 254
Ilustrații: XXIV, 228 S. 110 Abb.
Dimensiuni: 148 x 210 x 20 mm
Greutate: 0.31 kg
Ediția:2011
Editura: Vieweg+Teubner Verlag
Colecția Vieweg+Teubner Verlag
Locul publicării:Wiesbaden, Germany
Public țintă
ResearchNotă biografică
Dr.-Ing. Karsten Wolff promovierte bei Prof. Dr.-Ing. Ulrich Hilleringmann am Institut für Elektrotechnik und Informationstechnik der Universität Paderborn.
Textul de pe ultima copertă
Um die Produktionskosten zu reduzieren und neue Anwendungsgebiete zu erschließen, wird in den letzten Jahren zusehends die Herstellung von integrierten Schaltungen mittels Drucktechniken angestrebt. Eine aussichtsreiche Materialklasse für den Einsatz in gedruckten Halbleiterbauelementen stellen anorganische Nanopartikel dar. Insbesondere eignen sich hierfür halbleitende Nanopartikel aufgrund der theoretisch hohen Ladungsträgerbeweglichkeit und der Materialverfügbarkeit.
Karsten Wolff untersucht Integrationstechniken für die Verwendung von Halbleiternanopartikeln in Feldeffekttransistoren am Beispiel von Silizium- und Zinkoxid-Partikeln. Dabei betrachtet er sowohl klassische Dünnfilmtransistoren, nanoskalige Einzelpartikeltransistoren als auch Inverterschaltungen. Im Fokus steht das elektrische Verhalten der Bauelemente in Abhängigkeit von der Prozessführung und der Transistorarchitektur.
Karsten Wolff untersucht Integrationstechniken für die Verwendung von Halbleiternanopartikeln in Feldeffekttransistoren am Beispiel von Silizium- und Zinkoxid-Partikeln. Dabei betrachtet er sowohl klassische Dünnfilmtransistoren, nanoskalige Einzelpartikeltransistoren als auch Inverterschaltungen. Im Fokus steht das elektrische Verhalten der Bauelemente in Abhängigkeit von der Prozessführung und der Transistorarchitektur.