Marque, Registre Et Contour Dans Les Systemes Tonals En Chinois: Apports de La Microscopie Electronique
Autor Te-hsin Liufr Limba Franceză Paperback – 5 mai 2014
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Specificații
ISBN-13: 9786131503108
ISBN-10: 6131503109
Pagini: 256
Dimensiuni: 152 x 229 x 15 mm
Greutate: 0.38 kg
Editura: Omniscriptum
ISBN-10: 6131503109
Pagini: 256
Dimensiuni: 152 x 229 x 15 mm
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Notă biografică
Te-hsin Liu a obtenu son doctorat à l¿Université Paris 8 ennovembre 2008, et est restée une année à UC Berkeley poureffectuer des recherches post-doctorales. Elle est actuellementmaître de conférence à National Taiwan Normal University. Elles¿intéresse à la phonologie théorique, et plus particulièrementau sandhi tonal des langues chinoises.