Cantitate/Preț
Produs

Nanometer–scale Defect Detection Using Polarized Light

Autor PR Dahoo
en Limba Engleză Hardback – 11 aug 2016
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
Citește tot Restrânge

Preț: 98451 lei

Preț vechi: 108188 lei
-9% Nou

Puncte Express: 1477

Preț estimativ în valută:
18840 19551$ 15748£

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 15-29 martie

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9781848219366
ISBN-10: 1848219369
Pagini: 316
Dimensiuni: 167 x 241 x 24 mm
Greutate: 0.62 kg
Editura: ISTE Ltd.
Locul publicării:Hoboken, United States

Notă biografică