Photoacoustic and Photothermal Phenomena III: Proceedings of the 7th International Topical Meeting, Doorwerth, The Netherlands, August 26–30, 1991: Springer Series in Optical Sciences, cartea 69
Editat de Dane Bicanicen Limba Engleză Paperback – 3 oct 2013
Din seria Springer Series in Optical Sciences
- 24% Preț: 945.45 lei
- 18% Preț: 1752.15 lei
- 18% Preț: 2010.06 lei
- 20% Preț: 568.46 lei
- 18% Preț: 1059.72 lei
- 18% Preț: 946.87 lei
- 18% Preț: 906.98 lei
- 18% Preț: 844.94 lei
- Preț: 276.15 lei
- 15% Preț: 613.91 lei
- 18% Preț: 1740.65 lei
- Preț: 359.95 lei
- 18% Preț: 1319.18 lei
- 18% Preț: 1167.63 lei
- 18% Preț: 1485.82 lei
- 18% Preț: 1984.40 lei
- 18% Preț: 1162.04 lei
- 15% Preț: 609.69 lei
- 18% Preț: 903.98 lei
- 18% Preț: 897.26 lei
- 18% Preț: 1175.82 lei
- 18% Preț: 896.95 lei
- Preț: 371.64 lei
- 18% Preț: 944.12 lei
- 18% Preț: 1479.52 lei
- 18% Preț: 1051.48 lei
- 15% Preț: 616.40 lei
- Preț: 392.92 lei
- 18% Preț: 901.57 lei
- 15% Preț: 607.22 lei
Preț: 914.83 lei
Preț vechi: 1115.66 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1372
Preț estimativ în valută:
175.11€ • 188.28$ • 145.98£
175.11€ • 188.28$ • 145.98£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 19 decembrie 24 - 02 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783662138762
ISBN-10: 366213876X
Pagini: 764
Ilustrații: XXVIII, 732 p. 165 illus. in color.
Dimensiuni: 155 x 235 x 50 mm
Greutate: 1.05 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Optical Sciences
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 366213876X
Pagini: 764
Ilustrații: XXVIII, 732 p. 165 illus. in color.
Dimensiuni: 155 x 235 x 50 mm
Greutate: 1.05 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Optical Sciences
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
I Environmental and Trace Analysis, Agricultural, Biological, and Medical Applications.- II Spectroscopy.- III Non-Destructive Evaluation and Material Characterization.- IV Ultrasound and Kinetics, Including Ultrafast Phenomena.- V Electronic Materials and Semiconductors.- VI New Topics, Experimental Techniques and Instrumentation.- VII Phase Transitions, Heat and Mass Transfer.- VIII Surfaces, Interfaces, Thin Films, and Heterogeneous Media.- Index of Contributors.