Physical Measurement and Analysis of Thin Films: Progress in Analytical Chemistry, cartea 2
Editat de E. M. Murten Limba Engleză Paperback – 7 dec 2013
Preț: 374.89 lei
Nou
Puncte Express: 562
Preț estimativ în valută:
71.75€ • 74.53$ • 59.60£
71.75€ • 74.53$ • 59.60£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 03-17 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781489959126
ISBN-10: 1489959122
Pagini: 208
Ilustrații: XI, 194 p. 99 illus.
Dimensiuni: 152 x 229 x 11 mm
Greutate: 0.29 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Progress in Analytical Chemistry
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1489959122
Pagini: 208
Ilustrații: XI, 194 p. 99 illus.
Dimensiuni: 152 x 229 x 11 mm
Greutate: 0.29 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Progress in Analytical Chemistry
Locul publicării:New York, NY, United States
V-ar putea interesa
-
Preț: 66.28 lei -
Preț: 415.22 lei -
-20%Preț: 396.53 lei495.66 lei -
-18%Preț: 474.52 lei579.43 lei -
-9%Preț: 1066.26 lei1171.72 lei -
-8%Preț: 525.30 lei570.98 lei -
Concise Chemical ThermodynamicsA.P.H. PetersPreț: 355.39 lei -
Sulfur-Centered Reactive Intermediates in Chemistry and BiologyC. ChatgilialogluPreț: 396.54 lei