Physical Measurement and Analysis of Thin Films: Progress in Analytical Chemistry, cartea 2
Editat de E. M. Murten Limba Engleză Paperback – 7 dec 2013
Preț: 382.57 lei
Nou
Puncte Express: 574
Preț estimativ în valută:
73.22€ • 75.79$ • 61.88£
73.22€ • 75.79$ • 61.88£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 05-19 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781489959126
ISBN-10: 1489959122
Pagini: 208
Ilustrații: XI, 194 p. 99 illus.
Dimensiuni: 152 x 229 x 11 mm
Greutate: 0.29 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Progress in Analytical Chemistry
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1489959122
Pagini: 208
Ilustrații: XI, 194 p. 99 illus.
Dimensiuni: 152 x 229 x 11 mm
Greutate: 0.29 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Progress in Analytical Chemistry
Locul publicării:New York, NY, United States
V-ar putea interesa
-
Preț: 66.28 lei -
Preț: 415.22 lei -
-20%Preț: 396.53 lei495.66 lei -
-18%Preț: 475.26 lei579.43 lei -
-9%Preț: 1088.31 lei1195.95 lei -
-8%Preț: 536.11 lei582.73 lei -
Concise Chemical ThermodynamicsA.P.H. PetersPreț: 355.39 lei -
Sulfur-Centered Reactive Intermediates in Chemistry and BiologyC. ChatgilialogluPreț: 404.67 lei