Definir los parametros de polarizacion de la luz procedente de una muestra aporta una mayor informacion sobre las propiedades de esta que la simple medida de la intensidad luminosa difundida. Cuando un haz luminoso sufre una perturbacion debida a cualquier interaccion con un medio, los campos electromagneticos del haz incidente y el del haz emergente, expresados en terminos de los parametros de Stokes, pueden ser relacionados mediante la denominada matriz de Mueller. En este aspecto, el conocer la evolucion de los parametros de dicha matriz del sistema, nos permite definir como se comporta este frente a la luz incidente.En esta memoria se presenta una metodologia de trabajo y un conjunto de analisis realizados en muestras de diversos tipos: superficies planas micro estructuradas, suspensiones de micro particulas y nano particulas en coloide, sustancias quirales en medios turbios y componentes opticos y polarimetricos. Ademas, se han llevado a cabo simulaciones computacionales a fin de estudiar patrones de comportamiento en sistemas complejos, demostrando la validez del metodo."