V monografii predstavleny rezul'taty issledovaniy real'noy struktury kristallov, rastushchikh v tonkikh amorfnykh plenkakh selena. Real'naya struktura tonkikh kristallov selena kharakterizuetsya rotatsionnym iskrivleniem reshetki, v obshchem sluchae vokrug trekh vzaimno perpendikulyarnykh napravleniy, otlichnoy ot nulya rimanovoy kriviznoy reshetki i nalichiem mezhblochnykh granits s izmenyayushchimisya vdol' granits kristallogeometricheskimi parametrami. Razrabotana metodika opredeleniya rimanovoy krivizny reshetki tonkikh kristallov. Privedeny primery primeneniya dannoy metodiki dlya rascheta rimanovoy krivizny reshetki tonkikh kristallov selena. Obnaruzhen effekt izmeneniya znaka vektora razorientirovki vdol' mezhblochnykh granits, sformirovavshikhsya v kristallakh selena v protsesse rosta v tonkoy amorfnoy plenke. Effekt izmeneniya znaka vektora razorientirovki obnaruzhen v tonkikh kristallakh selena kak dlya granits vyshedshikh na front rosta kristalla, tak i dlya oborvannykh granits.