Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII: Proceedings of SPIE

en Limba Engleză Paperback – 30 apr 2014

Proceedings of SPIE offer access to the latest innovations in research and technology and are among the most cited references in patent literature.

Citește tot Restrânge

Din seria Proceedings of SPIE

Preț: 562^.40 lei

Preț vechi: 661^.65 lei
-15% Nou

Puncte Express: 844

:
107^.63€ • 113^.20$ • 89^.65£

Carte indisponibilă temporar

Wish list
Gift list
Am citit!

Adaugă în listă

Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9780819498885
ISBN-10: 0819498882
Pagini: 277
Dimensiuni: 152 x 229 mm
Editura: SPIE Press
Seria Proceedings of SPIE