Cantitate/Preț
Produs

Ruolo della ricottura sull'ingegneria dell'interfaccia nei dispositivi Ge MOS

Autor Rajesh T. V., Jagadeesh Chandra S. V., V. V. Ramana Ch
it Limba Italiană Paperback – 8 sep 2023
I dielettrici ad alta permittività e i substrati adatti sono oggetto di studi intensivi in vista del loro utilizzo nella progettazione VLSI. Tuttavia, l'ossido di afnio (HfO2) è un candidato promettente per la prossima generazione di dielettrici di gate grazie alla sua costante dielettrica relativamente alta 25 , all'ampio bandgap, alla buona stabilità termica e all'energia libera di reazione relativamente alta con il materiale del substrato. Recentemente, i dispositivi elettronici basati sul Ge hanno riguadagnato una notevole attenzione e il Ge può fornire soluzioni ai principali problemi che la tecnologia Si sta affrontando per i dispositivi CMOS avanzati; ciò è dovuto principalmente alla maggiore mo-bilità sia delle buche che degli elettroni nel substrato Ge. Questo libro è quindi utile ai lettori per conoscere alcuni aspetti significativi della tecnologia Ge per i dispositivi ad alta frequenza.
Citește tot Restrânge

Preț: 22469 lei

Nou

Puncte Express: 337

Preț estimativ în valută:
4300 4467$ 3572£

Carte disponibilă

Livrare economică 13-27 ianuarie 25

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9786206433811
ISBN-10: 6206433811
Pagini: 68
Dimensiuni: 150 x 220 x 5 mm
Greutate: 0.12 kg
Editura: Edizioni Sapienza

Notă biografică

T.V.Rajesh, Universidade de Deakin, Austrália. Publicou dois artigos internacionais. Dr. S.V.Jagadeesh Chandra, Professor do LBRCE, Mylavaram. Publicou 1 livro e 35 artigos científicos em revistas de referência. Dr. CH.V.V.Ramana, Professor Associado do CECC, Chirala. Publicou 4 livros, 1 capítulo de livro e 40 artigos científicos em revistas especializadas.