Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and Transistor Modeling
Editat de R. Doerner, Abraham M. Rudolphde Limba Germană Paperback – 30 sep 2015
Preț: 113.88 lei
Nou
Puncte Express: 171
Preț estimativ în valută:
21.79€ • 23.01$ • 18.13£
21.79€ • 23.01$ • 18.13£
Carte indisponibilă temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783865373281
ISBN-10: 3865373283
Dimensiuni: 146 x 209 x 10 mm
Greutate: 0.19 kg
Editura: Cuvillier Verlag
ISBN-10: 3865373283
Dimensiuni: 146 x 209 x 10 mm
Greutate: 0.19 kg
Editura: Cuvillier Verlag