Shallow Refraction Seismics: Tertiary Level Biology
Editat de Bengt Sjogrenen Limba Engleză Paperback – 13 noi 2013
Din seria Tertiary Level Biology
- 15% Preț: 637.59 lei
- Preț: 381.00 lei
- Preț: 382.95 lei
- Preț: 379.86 lei
- Preț: 381.59 lei
- Preț: 387.20 lei
- Preț: 362.82 lei
- Preț: 386.99 lei
- Preț: 382.18 lei
- 15% Preț: 633.02 lei
- Preț: 386.00 lei
- Preț: 379.09 lei
- Preț: 385.47 lei
- Preț: 387.20 lei
- 18% Preț: 721.01 lei
- Preț: 384.48 lei
- Preț: 382.95 lei
- Preț: 351.90 lei
- Preț: 381.59 lei
- Preț: 382.36 lei
- Preț: 380.07 lei
- 15% Preț: 636.45 lei
- Preț: 381.59 lei
- 15% Preț: 660.18 lei
- Preț: 390.84 lei
- Preț: 384.31 lei
- Preț: 385.62 lei
- Preț: 384.86 lei
- Preț: 385.08 lei
- Preț: 378.92 lei
- Preț: 379.48 lei
- Preț: 384.70 lei
- Preț: 404.67 lei
- Preț: 381.00 lei
- Preț: 394.71 lei
- Preț: 376.96 lei
- Preț: 382.18 lei
- Preț: 379.09 lei
- Preț: 382.18 lei
- 15% Preț: 637.59 lei
- Preț: 385.47 lei
- Preț: 380.07 lei
- Preț: 387.38 lei
- Preț: 380.25 lei
- Preț: 418.76 lei
Preț: 387.38 lei
Nou
Puncte Express: 581
Preț estimativ în valută:
74.14€ • 76.81$ • 61.87£
74.14€ • 76.81$ • 61.87£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 21 martie-04 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9789401089470
ISBN-10: 9401089477
Pagini: 284
Ilustrații: VII, 270 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 15 mm
Greutate: 0.4 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1984
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria Tertiary Level Biology
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
ISBN-10: 9401089477
Pagini: 284
Ilustrații: VII, 270 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 15 mm
Greutate: 0.4 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1984
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria Tertiary Level Biology
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
Public țintă
ResearchCuprins
1 Introduction.- 2 Basic principles.- 2.1 Stress, strain and elastic constants.- 2.2 Elastic waves.- 2.3 Wavelength and frequency.- 2.4 Longitudinal velocities.- 2.5 Huygens’ principle.- 2.6 Snell’s law.- 2.7 Diffraction.- 2.8 Non-critical refraction.- 3 Depth formulae.- 3.1 Two-layer case.- 3.2 Three-layer case.- 3.3 Multilayer cases.- 3.4 Sloping layers.- 3.5 Parallelism and reciprocity.- 3.6 Various travel paths.- 3.7 Hidden layer, blind zone.- 3.8 Continuous increase in velocity.- 4 Interpretation methods.- 4.1 Depth determinations.- 4.2 Refractor velocity determinations.- 5 Instrumentation, field work and interpretation procedure.- 5.1 Equipment.- 5.2 Field work.- 5.3 Field sheets.- 5.4 Time—distance graphs.- 5.5 Interpretation procedures.- 5.6 Profile positioning.- 6 Applications.- 7 Future prospects.- References.- Further reading.