Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods: Nato ASI Subseries B:, cartea 16
Editat de Ugo Valdreen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria Nato ASI Subseries B:
- Preț: 409.69 lei
- Preț: 397.16 lei
- Preț: 388.13 lei
- Preț: 409.89 lei
- Preț: 406.25 lei
- Preț: 405.66 lei
- 5% Preț: 372.03 lei
- Preț: 409.89 lei
- 20% Preț: 566.59 lei
- Preț: 398.92 lei
- Preț: 420.46 lei
- Preț: 414.30 lei
- Preț: 403.37 lei
- Preț: 415.67 lei
- Preț: 408.54 lei
- Preț: 404.29 lei
- Preț: 403.53 lei
- Preț: 398.35 lei
- Preț: 382.50 lei
- 5% Preț: 367.84 lei
- 20% Preț: 338.03 lei
- Preț: 403.15 lei
- Preț: 388.13 lei
- Preț: 386.39 lei
- Preț: 415.07 lei
- Preț: 402.56 lei
- Preț: 421.05 lei
- Preț: 398.53 lei
- Preț: 437.01 lei
- Preț: 384.31 lei
- Preț: 408.92 lei
- Preț: 407.19 lei
- Preț: 422.19 lei
- Preț: 399.67 lei
- Preț: 411.26 lei
- Preț: 390.25 lei
Preț: 392.97 lei
Nou
Puncte Express: 589
Preț estimativ în valută:
75.20€ • 77.69$ • 62.59£
75.20€ • 77.69$ • 62.59£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 26 martie-09 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781461595397
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Greutate: 0.53 kg
Ediția:1988
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Greutate: 0.53 kg
Ediția:1988
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Principles and techniques of transmission imaging of surfaces.- Catalyst studies by scanning transmission electron microscopy.- Localised surface imaging and spectroscopy in the scanning transmission electron microscope.- Fundamentals of high resolution transmission electron microscopy.- Profile imaging of small particles, extended surfaces and dynamic surface phenomena.- Transmission electron microscopy and diffraction from semiconductor interfaces and surfaces.- The transmission electron microscopy of interfaces and multilayers.- Surface microanalysis and microscopy by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), core-loss spectroscopy (CLS) and Auger electron spectroscopy (AES).- Reflection electron microscopy.- An introduction to reflection high energy electron diffraction.- Intensity oscillations in reflection high energy electron diffraction during epitaxial growth.- Emission and low energy reflection electron microscopy.- Scanning tunneling microscopy and spectroscopy.- Spin-polarized secondary electrons from ferromagnets.- Electronically stimulated desorption: mechanisms, applications and implications.- Structure and catalytic activity of surfaces.