Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods: Nato ASI Subseries B:, cartea 16
Editat de Ugo Valdreen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria Nato ASI Subseries B:
- Preț: 406.68 lei
- Preț: 394.25 lei
- Preț: 385.29 lei
- Preț: 406.89 lei
- Preț: 403.27 lei
- Preț: 402.69 lei
- 5% Preț: 369.31 lei
- Preț: 406.89 lei
- 20% Preț: 562.43 lei
- Preț: 395.98 lei
- Preț: 417.39 lei
- Preț: 411.26 lei
- Preț: 400.41 lei
- Preț: 412.62 lei
- Preț: 405.55 lei
- Preț: 401.33 lei
- Preț: 400.58 lei
- Preț: 395.43 lei
- Preț: 382.50 lei
- 5% Preț: 365.15 lei
- 20% Preț: 335.55 lei
- Preț: 400.20 lei
- Preț: 385.29 lei
- Preț: 383.55 lei
- Preț: 412.03 lei
- Preț: 399.61 lei
- Preț: 417.97 lei
- Preț: 395.61 lei
- Preț: 433.80 lei
- Preț: 381.50 lei
- Preț: 405.92 lei
- Preț: 404.20 lei
- Preț: 419.10 lei
- Preț: 396.74 lei
- Preț: 408.24 lei
- Preț: 387.40 lei
Preț: 390.09 lei
Nou
Puncte Express: 585
Preț estimativ în valută:
74.71€ • 76.97$ • 62.58£
74.71€ • 76.97$ • 62.58£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 22 februarie-08 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781461595397
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Greutate: 0.53 kg
Ediția:1988
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461595398
Pagini: 332
Ilustrații: VIII, 319 p.
Greutate: 0.53 kg
Ediția:1988
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Nato ASI Subseries B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Principles and techniques of transmission imaging of surfaces.- Catalyst studies by scanning transmission electron microscopy.- Localised surface imaging and spectroscopy in the scanning transmission electron microscope.- Fundamentals of high resolution transmission electron microscopy.- Profile imaging of small particles, extended surfaces and dynamic surface phenomena.- Transmission electron microscopy and diffraction from semiconductor interfaces and surfaces.- The transmission electron microscopy of interfaces and multilayers.- Surface microanalysis and microscopy by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), core-loss spectroscopy (CLS) and Auger electron spectroscopy (AES).- Reflection electron microscopy.- An introduction to reflection high energy electron diffraction.- Intensity oscillations in reflection high energy electron diffraction during epitaxial growth.- Emission and low energy reflection electron microscopy.- Scanning tunneling microscopy and spectroscopy.- Spin-polarized secondary electrons from ferromagnets.- Electronically stimulated desorption: mechanisms, applications and implications.- Structure and catalytic activity of surfaces.