Este libro se centra en diferentes herramientas de caracterización de materiales, centrándose en la morfología/topología y las propiedades estructurales de los materiales. En el capítulo relacionado con las herramientas de caracterización morfológica, el libro discute principalmente el Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM), el Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) y el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM), mientras que el capítulo de caracterización estructural incluye los detalles del Difractómetro de Rayos X (XRD), la Difracción de Neutrones, el Microscopio Raman y la Di¿racción Electrónica de Área Seleccionada (SAED). En este capítulo, hemos hecho todo lo posible para explicar cada detalle de las técnicas experimentales, lo que será muy útil para los nuevos estudiantes.