Ce travail traite de l'analyse de texture cristallographique de ceramiques et de couches minces du compose YBa2Cu3O7 et de l'effet de cette texture sur les proprietes supraconductrices, principalement la densite de courant critique Jc. La diffraction des rayons X a surtout ete utilisee, completee pour certains echantillons par la diffraction de neutrons. Dans le cas de l'utilisation des rayons X, les corrections de defocalisation indispensables a l'analyse quantitative des orientations preferentielles dans des couches minces et des multicouches ont ete developpees. Les echantillons massifs les plus textures ont ete elabores par des techniques derivees du Melt Textured Growth. L'importance de la texture sur Jc dans ces echantillons est clairement mise en evidence. Pour les couches minces hetero-epitaxiees, l'utilisation de differents substrats va en defaveur de MgO, notamment a cause d'interfaces perturbees. Jc est reliee quantitativement au degre de texture des films. La presence en volume de faibles orientations secondaires (dont un modele de quantification est decrit) diminue de facon importante Jc."