Traceability between Software Artifacts
Autor Raquel Nitsche Dos Santos, Raul Sidnei Wazlawick, Antônio V. Dos Santosen Limba Engleză Paperback – 2 iul 2023
Preț: 225.08 lei
Preț vechi: 281.35 lei
-20% Nou
Puncte Express: 338
Preț estimativ în valută:
43.07€ • 44.71$ • 35.92£
43.07€ • 44.71$ • 35.92£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 22 martie-05 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9786206204343
ISBN-10: 6206204340
Pagini: 52
Dimensiuni: 150 x 220 x 4 mm
Greutate: 0.09 kg
Editura: Our Knowledge Publishing
ISBN-10: 6206204340
Pagini: 52
Dimensiuni: 150 x 220 x 4 mm
Greutate: 0.09 kg
Editura: Our Knowledge Publishing
Notă biografică
Si è laureata in Informatica presso l'Università di Passo Fundo (2005) e ha conseguito un master in Informatica presso l'Università Federale di Santa Catarina (2010). Attualmente è professoressa di Educazione tecnica e superiore presso l'Instituto Federal Catarinense. Ha più di 10 anni di esperienza nell'ingegneria del software.