Über die Wechselwirkung kurzer Ermüdungsrisse mit Korngrenzen - Systematische Experimente mit Focussed Ion Beam Microscope und mikrostruktureller Tomographie
Autor Wolfgang Schäfde Limba Germană Paperback – 30 iun 2011
Preț: 263.70 lei
Nou
Puncte Express: 396
Preț estimativ în valută:
50.46€ • 52.37$ • 42.18£
50.46€ • 52.37$ • 42.18£
Carte indisponibilă temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783844002195
ISBN-10: 3844002197
Pagini: 190
Ilustrații: 29 farbige Abbildungen
Dimensiuni: 148 x 211 x 12 mm
Greutate: 0.26 kg
Editura: Shaker Verlag
ISBN-10: 3844002197
Pagini: 190
Ilustrații: 29 farbige Abbildungen
Dimensiuni: 148 x 211 x 12 mm
Greutate: 0.26 kg
Editura: Shaker Verlag