Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie
Autor Christian Jägerde Limba Germană Paperback – 22 noi 1998
Preț: 486.30 lei
Preț vechi: 600.37 lei
-19% Nou
Puncte Express: 729
Preț estimativ în valută:
93.05€ • 97.95$ • 77.01£
93.05€ • 97.95$ • 77.01£
Carte disponibilă
Livrare economică 27 decembrie 24 - 10 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783838611846
ISBN-10: 3838611845
Pagini: 108
Dimensiuni: 148 x 210 x 8 mm
Greutate: 0.15 kg
Editura: diplom.de
ISBN-10: 3838611845
Pagini: 108
Dimensiuni: 148 x 210 x 8 mm
Greutate: 0.15 kg
Editura: diplom.de