Untersuchungen diffusionsinduzierter Defekte in GaP und GaSb mittels Transmissionselektronenmikroskopie
Autor Christian Jägerde Limba Germană Paperback – 22 noi 1998
Preț: 486.30 lei
Preț vechi: 600.37 lei
-19% Nou
Puncte Express: 729
Preț estimativ în valută:
93.06€ • 97.72$ • 77.14£
93.06€ • 97.72$ • 77.14£
Carte disponibilă
Livrare economică 26 decembrie 24 - 09 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783838611846
ISBN-10: 3838611845
Pagini: 108
Dimensiuni: 148 x 210 x 8 mm
Greutate: 0.15 kg
Editura: diplom.de
ISBN-10: 3838611845
Pagini: 108
Dimensiuni: 148 x 210 x 8 mm
Greutate: 0.15 kg
Editura: diplom.de