Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l’Optique des Rayons X et la Microanalyse
Autor Gottfried Möllenstedtde Limba Germană Paperback – 1969
Preț: 440.39 lei
Nou
Puncte Express: 661
Preț estimativ în valută:
84.28€ • 87.76$ • 71.23£
84.28€ • 87.76$ • 71.23£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 07-21 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783662228456
ISBN-10: 3662228459
Pagini: 628
Ilustrații: XII, 612 S. 690 Abb., 3 Abb. in Farbe.
Dimensiuni: 155 x 235 x 33 mm
Greutate: 0.87 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3662228459
Pagini: 628
Ilustrații: XII, 612 S. 690 Abb., 3 Abb. in Farbe.
Dimensiuni: 155 x 235 x 33 mm
Greutate: 0.87 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1969
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
X-Ray Optics.- Electron Probe Microanalysis. Physical Bases.- Electron Probe Microanalysis. Quantitative Analysis.- Instrumentation.- Microdiffraction.- Metallurgical and Mineralogical Applications.- Biological Applications.