X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy
Autor John J. Friel, Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlinen Limba Engleză Hardback – 17 apr 2017
Preț: 405.11 lei
Nou
Puncte Express: 608
Preț estimativ în valută:
77.53€ • 81.30$ • 64.64£
77.53€ • 81.30$ • 64.64£
Carte indisponibilă temporar
Doresc să fiu notificat când acest titlu va fi disponibil:
Se trimite...
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783864606748
ISBN-10: 3864606748
Pagini: 118
Dimensiuni: 222 x 287 x 15 mm
Greutate: 0.8 kg
Ediția:Nouă
Editura: Pro Business
ISBN-10: 3864606748
Pagini: 118
Dimensiuni: 222 x 287 x 15 mm
Greutate: 0.8 kg
Ediția:Nouă
Editura: Pro Business