X-Ray Microscopy III: Proceedings of the Third International Conference, London, September 3–7, 1990: Springer Series in Optical Sciences, cartea 67
Editat de Alan G. Michette, Graeme R. Morrison, Christopher J. Buckleyen Limba Engleză Paperback – 3 oct 2013
Din seria Springer Series in Optical Sciences
- 24% Preț: 945.45 lei
- 18% Preț: 1850.21 lei
- 18% Preț: 2124.06 lei
- 20% Preț: 568.46 lei
- 18% Preț: 1118.93 lei
- 18% Preț: 999.76 lei
- 18% Preț: 957.62 lei
- 18% Preț: 892.11 lei
- 15% Preț: 648.56 lei
- 18% Preț: 1838.07 lei
- Preț: 379.86 lei
- 18% Preț: 1392.95 lei
- 18% Preț: 1232.89 lei
- 18% Preț: 1568.95 lei
- 18% Preț: 2095.49 lei
- 18% Preț: 1227.84 lei
- 15% Preț: 643.65 lei
- 18% Preț: 954.45 lei
- 18% Preț: 947.35 lei
- 18% Preț: 1241.55 lei
- 18% Preț: 947.04 lei
- Preț: 392.21 lei
- 18% Preț: 997.53 lei
- 18% Preț: 1562.31 lei
- 18% Preț: 1110.24 lei
- 15% Preț: 651.19 lei
- Preț: 414.69 lei
- 18% Preț: 952.57 lei
- 15% Preț: 641.03 lei
- 15% Preț: 635.80 lei
Preț: 650.86 lei
Preț vechi: 765.72 lei
-15% Nou
Puncte Express: 976
Preț estimativ în valută:
124.55€ • 129.25$ • 104.11£
124.55€ • 129.25$ • 104.11£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 17-31 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783662138946
ISBN-10: 3662138948
Pagini: 512
Ilustrații: XVI, 493 p. 416 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 30 mm
Greutate: 0.71 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Optical Sciences
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3662138948
Pagini: 512
Ilustrații: XVI, 493 p. 416 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 30 mm
Greutate: 0.71 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1992
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Optical Sciences
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
I Introduction to X-Ray Microscopy 1990.- II X-Ray Sources and X-Ray Optics.- III X-Ray Imaging and Related Topics.- IV X-Ray Interactions and Image Contrast.- V Microscope Technology and Instrumentation.- VI Applications of X-Ray Microscopy.- Index of Contributors.