X-ray Technology, Noises in X-ray images, Causes and Solution
Autor Khan Sajid Ullah, Chai Wang Yin, See Chai Sooen Limba Engleză Paperback – 21 feb 2013
Preț: 275.42 lei
Preț vechi: 344.27 lei
-20% Nou
Puncte Express: 413
Preț estimativ în valută:
52.72€ • 54.83$ • 44.18£
52.72€ • 54.83$ • 44.18£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 14-28 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783659352621
ISBN-10: 3659352624
Pagini: 56
Dimensiuni: 152 x 229 x 3 mm
Greutate: 0.1 kg
Editura: LAP Lambert Academic Publishing AG & Co. KG
Colecția LAP Lambert Academic Publishing
ISBN-10: 3659352624
Pagini: 56
Dimensiuni: 152 x 229 x 3 mm
Greutate: 0.1 kg
Editura: LAP Lambert Academic Publishing AG & Co. KG
Colecția LAP Lambert Academic Publishing