Advances in X-Ray Analysis: Volume 32
Editat de Charles S. Barrett, J.V. Gilfrich, Ron Jenkins, John C. Russ, J.W. Richardson Jr., Paul K. Predeckien Limba Engleză Hardback – iun 1989
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 1197.06 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – 18 iun 2013 | 1197.06 lei 6-8 săpt. | |
Hardback (1) | 1204.80 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – iun 1989 | 1204.80 lei 6-8 săpt. |
Preț: 1204.80 lei
Preț vechi: 1469.27 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1807
Preț estimativ în valută:
230.58€ • 243.25$ • 192.16£
230.58€ • 243.25$ • 192.16£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 02-16 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780306432361
ISBN-10: 0306432366
Pagini: 682
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 38 mm
Greutate: 1.44 kg
Ediția:1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306432366
Pagini: 682
Ilustrații: XXVI, 682 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 38 mm
Greutate: 1.44 kg
Ediția:1989
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. High Brilliance Sources/Applications.- II. On-Line X-Ray Analysis.- III. Xrf Mathematical Models and Quantitation.- IV. Techniques And XRF Instrumentation.- V. XRF Applications.- VI. Analysis of Thin Films by XRD and XRF.- VII. X-Ray Stress Analysis.- VIII. Applications of Digitized XRD Patterns.- IX. Qualitative and Quantitative Phase Analysis Diffraction Applications.- X. X-Ray Tomography, Imaging, and Topography.- Author Index.