Advances in X-Ray Analysis: Volume 38
Editat de D. K. Bowen, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Paul K. Predecki, Deane K. Smithen Limba Engleză Hardback – 30 sep 1995
Preț: 1852.57 lei
Preț vechi: 2259.23 lei
-18% Nou
Puncte Express: 2779
Preț estimativ în valută:
354.48€ • 370.11$ • 293.38£
354.48€ • 370.11$ • 293.38£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 04-18 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780306450457
ISBN-10: 0306450453
Pagini: 787
Ilustrații: XXVI, 787 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 51 mm
Greutate: 1.47 kg
Ediția:1995
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0306450453
Pagini: 787
Ilustrații: XXVI, 787 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 51 mm
Greutate: 1.47 kg
Ediția:1995
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I. Dynamic Characterization of Materials by Powder Diffraction.- II. Phase Analysis, Accuracy and Standards in Powder Diffraction.- III. Applications of Diffraction to Semiconductors and Films.- IV New Developments in X-Ray Sources, Instrumentation and Techniques.- V. Residual Stress, Crystallite Size and Rms Strain Determination by Diffraction Methods.- VI. Polymer Applications of X-Ray Scattering.- VII. Microbeam Xrd and Xrs Analysis.- VIII. In Vivo Applications of Xrs.- IX. Xrs Mathematical Methods, Trace Analysis and Other Applications.- X. Structural and Other Applications of Powder Diffraction.- Author Index.