Characterization of Advanced Materials
Editat de W. Altergott, E. Hennekeen Limba Engleză Paperback – 26 oct 2012
Preț: 374.28 lei
Nou
Puncte Express: 561
Preț estimativ în valută:
71.64€ • 74.66$ • 59.63£
71.64€ • 74.66$ • 59.63£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 06-20 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781461366393
ISBN-10: 1461366399
Pagini: 196
Ilustrații: IX, 183 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 10 mm
Greutate: 0.35 kg
Ediția:1990
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1461366399
Pagini: 196
Ilustrații: IX, 183 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 10 mm
Greutate: 0.35 kg
Ediția:1990
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Stereo X-Ray Radiography of Composite Materials.- Application of X-Ray Computed Tomography to Ceramic/Ceramic Composites.- High Speed Heterodyne Holographic Interferometry.- Optical Fiber Waveguide Methods for Advanced Materials.- Adiabatic Thermography of Composite Materials.- Application of Scanning Acoustic Microscopy to Advanced Structural Ceramics.- TEM Studies of Semiconductor Materials.- The Characterization of New Austenitic Stainless Steels Highly Resistant to Cavitation-Erosion.- Characterization of Duplex Stainless Steels by TEM, SANS, and APFIM Techniques.- Characterization of Microstructures in Rapidly Solidified Alloys.- Characterization of Wear-Resistant Coatings and Surface Treatments.