Les travaux developpes dans cette these concernent l'etude, la caracterisation et la modelisation du comportement des diodes lors d'evenements transitoires rapides de type ESD. Dans un premier temps, un nouveau banc de mesure capable de fournir rapidement des resultats sur le comportement des structures de protections ESD lors d'un evenement transitoire tres rapide a ete developpe: le VF-TCS - Very Fast Transient Characterization System. Ce systeme permet d'etudier le comportement transitoire, dans des gammes de temps propres au CDM, des structures de protection que sont la diode, le GGNMOS, la protection centrale et le thyristor. Dans un deuxieme temps, un nouveau modele compact de diode capable de retranscrire avec precision son comportement lors d'un evenement transitoire tres rapide a ete developpe. Les concepteurs ont desormais des resultats de simulations fiables mettant en exergue les faiblesses potentielles de leurs strategies de protection, notamment en ce qui concerne les surtensions eventuelles pouvant constituer un danger pour le circuit a proteger."