Trois techniques ont t d velopp es pour la caract risation lectrique des mat riaux pour les applications radiofr quences. La caract risation lectromagn tique de mat riaux est une activit croissante avec de nombreuses applications industrielles tels que la micro lectronique, l'a ronautique, la m decine, etc. Une monture coaxiale a t r alis e pour la caract risation de mat riaux mous. La technique de deux lignes de transmission a t d velopp e afin de s'affranchir de l'influence des discontinuit s au niveau des connecteurs. Parmi les techniques d velopp es, celles dites affleurantes utilisant la sonde coaxiale en r flexion (S.C.R) et/ou en transmission (S.C.T) a permis la caract risation de la silice, de l'alumine 99,9% et du silicium. En utilisant un connecteur SMA, nous avons extrait une tangente de perte inf rieure 0.01 dans la bande allant de quelques MHz 14GHz et des permittivit s relatives jusqu' 18GHz pour une erreur relative de 3%.