Epioptics: Linear and Nonlinear Optical Spectroscopy of Surfaces and Interfaces: ESPRIT Basic Research Series
Editat de John F. McGilp, Denis Weaire, Charles Pattersonen Limba Engleză Paperback – 24 noi 2011
Preț: 330.10 lei
Preț vechi: 412.62 lei
-20% Nou
Puncte Express: 495
Preț estimativ în valută:
63.17€ • 65.55$ • 52.80£
63.17€ • 65.55$ • 52.80£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 17-31 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783642798221
ISBN-10: 3642798225
Pagini: 248
Ilustrații: XII, 230 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 13 mm
Greutate: 0.35 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria ESPRIT Basic Research Series
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3642798225
Pagini: 248
Ilustrații: XII, 230 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 13 mm
Greutate: 0.35 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1995
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria ESPRIT Basic Research Series
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
1. Introduction.- 2. The Linear Optical Response.- 3. Spectroscopic Ellipsometry.- 4. Reflection Difference Techniques.- 5. Raman Spectroscopy.- 6. Photoluminescence Spectroscopy.- 7. On the Theory of Second Harmonic Generation.- 8. Second Harmonic and Sum Frequency Generation.- 9. Conclusions.- Appendices.