Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
Autor M. Grasserbauer et al.
6 dec 2011
Paperback
Preț: 460.58 lei 541.86 lei
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