Cantitate/Preț
Produs

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology: IOP Concise Physics

Autor David C. Cox
en Limba Engleză Paperback – 30 sep 2015
This book describes modern focused ion beam microscopes and techniques and how they can be used to aid materials metrology and as tools for the fabrication of devices that in turn are used in many other aspects of fundamental metrology.
Citește tot Restrânge

Din seria IOP Concise Physics

Preț: 54426 lei

Preț vechi: 64030 lei
-15% Nou

Puncte Express: 816

Preț estimativ în valută:
10419 11350$ 8740£

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 18 decembrie 24 - 01 ianuarie 25

Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9781681740201
ISBN-10: 1681740206
Pagini: 84
Dimensiuni: 178 x 254 x 4 mm
Greutate: 0.16 kg
Editura: Morgan & Claypool
Seria IOP Concise Physics