Aujourd'hui les systemes embarques sont partout et requierent de plus en plus de puissance de calcul. Pour cela, ces dernieres annees, les progres d'integration ont permis de diminuer la taille des transistors, d'augmenter la frequence de fonctionnement et de diminuer la tension d'alimentation. Tout cela en augmentant progressivement le nombre de processeurs dans une meme puce. Cependant, cette evolution a un impact negatif sur la fiabilite en causant l'apparition prematuree de fautes intermittentes. Neanmoins, concernant ce type de fautes nous ne beneficions pas d'etudes experimentales detaillees. Or, pour tenter de s'en premunir, il est important de comprendre leur comportement ainsi que leur impact sur le systeme et les applications. Notre etude confirme qu'il est possible d'observer des erreurs intermittentes tres tot avant la periode d'usure du circuit. Il est donc possible de les detecter en ligne. Pour cela, nous avons developpe une methode de test periodique adaptee a la fois aux erreurs intermittentes et aux architectures multiprocesseur."