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Materialprüfung mit Röntgenstrahlen: Unter besonderer Berücksichtigung der Röntgenmetallkunde

Autor Richard Glocker
de Limba Germană Paperback – 15 mar 1985
Dieser Buchtitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfängen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen für die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfügung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden müssen. Dieser Titel erschien in der Zeit vor 1945 und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben.
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Specificații

ISBN-13: 9783540139812
ISBN-10: 3540139818
Pagini: 644
Ilustrații: X, 631 S.
Dimensiuni: 155 x 235 x 34 mm
Greutate: 0.89 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 5th ed. 1971
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany

Public țintă

Research

Cuprins

1. Röntgen- und ?-Strahlen, ihre Entstehung und ihre Anwendung in der Werkstoffprüfung.- I. Strahlungsquellen.- 2. Röntgenröhren und Röntgenapparate.- 3. Vielfachbesehleuniger.- 4. Radioaktive Isotope.- II. Eigenschaften der Röntgenstrahlen.- 5. Absorption und Sekundärstrahlung.- 6. Beugung und Brechung.- 7. Ionisation, Lumineszenz, photographische Wirkung.- III. Strahlenschutz.- 8. Schutzmaßnahmen und Schutzvorschriften.- IV. Grobstrukturuntersuchung.- 9. Grundlagen der Grobstrukturuntersuchung.- 10. Praktische Anwendung der Grobstrukturuntersuchung.- V. Spektralanalyse.- 11. Grundlagen der Röntgenspektroskopie.- 12. Photographische Spektralanalyse.- 13. Zählrohrspektrometer.- 14. Durchführung von Fluoreszenz-Röntgenanalysen und technische Anwendungen.- 15. Mikrosonde.- VI. Feinstrukturuntersuchung.- 16. Überblick über die verschiedenen Verfahren der Feinstrukturuntersuchung und ihre Anwendungsgebiete.- 17. Kristallographische Grundlagen.- 18. Pulverdiagramme.- 19. Einkristalldiagramme.- 20. Diffraktometer (Zählrohrgoniometer).- 21. Intensität der Röntgeninterferenzen.- 22. Überblick über den Gang einer Strukturbestimmung.- 23. Beschreibung von Kristallstrukturen anorganischer und organischer Stoffe und Grundzüge der Kristallchemie.- 24. Gitterstörungen.- 25. Der Mischkristall und seine Umwandlungsvorgänge.- 26. Verbreiterung von Röntgeninterferenzen.- 27. Messung von elastischen Spannungen.- 28. Kristalltexturen.- 29. Nichtkristalline feste Stoffe und Schmelzen.- 30. Kleinwinkelstreuung.- Mathematischer Anhang.- A. Beispiele für Absorptionsberechnungen.- B. Statistische Schwankungen bei Gas- und Szintillationszählern.- C. Kristallographische Formeln.- D. Reziprokes Gitter.- E. Stereographische Projektion.- F. Korrektionsverfahren fürLinienbreiten und Linienprofile.- G. Beispiele für Spannungsmessung mit Filmverfahren und Goniometer.- H. Fourier-Analyse bei amorphen Stoffen und Schmelzen.- I. Auswertungsverfahren der Kleinwinkelstreuung.- K. Grundgedanken der Theorie des Parakristalles.- Schrifttum.- Namenverzeichnis.