Materialprüfung mit Röntgenstrahlen: Unter besonderer Berücksichtigung der Röntgenmetallkunde
Autor Richard Glockerde Limba Germană Paperback – 15 mar 1985
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
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Paperback (2) | 423.82 lei 6-8 săpt. | |
Springer Berlin, Heidelberg – 1927 | 423.82 lei 6-8 săpt. | |
Springer Berlin, Heidelberg – 15 mar 1985 | 438.13 lei 6-8 săpt. |
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Specificații
ISBN-13: 9783540139812
ISBN-10: 3540139818
Pagini: 644
Ilustrații: X, 631 S.
Dimensiuni: 155 x 235 x 34 mm
Greutate: 0.89 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 5th ed. 1971
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3540139818
Pagini: 644
Ilustrații: X, 631 S.
Dimensiuni: 155 x 235 x 34 mm
Greutate: 0.89 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 5th ed. 1971
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
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ResearchCuprins
1. Röntgen- und ?-Strahlen, ihre Entstehung und ihre Anwendung in der Werkstoffprüfung.- I. Strahlungsquellen.- 2. Röntgenröhren und Röntgenapparate.- 3. Vielfachbesehleuniger.- 4. Radioaktive Isotope.- II. Eigenschaften der Röntgenstrahlen.- 5. Absorption und Sekundärstrahlung.- 6. Beugung und Brechung.- 7. Ionisation, Lumineszenz, photographische Wirkung.- III. Strahlenschutz.- 8. Schutzmaßnahmen und Schutzvorschriften.- IV. Grobstrukturuntersuchung.- 9. Grundlagen der Grobstrukturuntersuchung.- 10. Praktische Anwendung der Grobstrukturuntersuchung.- V. Spektralanalyse.- 11. Grundlagen der Röntgenspektroskopie.- 12. Photographische Spektralanalyse.- 13. Zählrohrspektrometer.- 14. Durchführung von Fluoreszenz-Röntgenanalysen und technische Anwendungen.- 15. Mikrosonde.- VI. Feinstrukturuntersuchung.- 16. Überblick über die verschiedenen Verfahren der Feinstrukturuntersuchung und ihre Anwendungsgebiete.- 17. Kristallographische Grundlagen.- 18. Pulverdiagramme.- 19. Einkristalldiagramme.- 20. Diffraktometer (Zählrohrgoniometer).- 21. Intensität der Röntgeninterferenzen.- 22. Überblick über den Gang einer Strukturbestimmung.- 23. Beschreibung von Kristallstrukturen anorganischer und organischer Stoffe und Grundzüge der Kristallchemie.- 24. Gitterstörungen.- 25. Der Mischkristall und seine Umwandlungsvorgänge.- 26. Verbreiterung von Röntgeninterferenzen.- 27. Messung von elastischen Spannungen.- 28. Kristalltexturen.- 29. Nichtkristalline feste Stoffe und Schmelzen.- 30. Kleinwinkelstreuung.- Mathematischer Anhang.- A. Beispiele für Absorptionsberechnungen.- B. Statistische Schwankungen bei Gas- und Szintillationszählern.- C. Kristallographische Formeln.- D. Reziprokes Gitter.- E. Stereographische Projektion.- F. Korrektionsverfahren fürLinienbreiten und Linienprofile.- G. Beispiele für Spannungsmessung mit Filmverfahren und Goniometer.- H. Fourier-Analyse bei amorphen Stoffen und Schmelzen.- I. Auswertungsverfahren der Kleinwinkelstreuung.- K. Grundgedanken der Theorie des Parakristalles.- Schrifttum.- Namenverzeichnis.