Nonlinear RF Circuits and Nonlinear Vector Network Analyzers: Interactive Measurement and Design Techniques: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Autor Patrick Roblinen Limba Engleză Hardback – iun 2011
Din seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
- 14% Preț: 749.87 lei
- 11% Preț: 573.83 lei
- 14% Preț: 791.06 lei
- 9% Preț: 656.12 lei
- 11% Preț: 456.50 lei
- 8% Preț: 479.80 lei
- 11% Preț: 438.66 lei
- 9% Preț: 605.27 lei
- 14% Preț: 744.59 lei
- 14% Preț: 719.42 lei
- 19% Preț: 502.41 lei
- 23% Preț: 1105.03 lei
- 9% Preț: 616.58 lei
- 35% Preț: 525.28 lei
- 23% Preț: 692.99 lei
- 12% Preț: 394.61 lei
- 20% Preț: 496.25 lei
- 23% Preț: 538.28 lei
- 24% Preț: 688.11 lei
- 24% Preț: 689.33 lei
Preț: 845.00 lei
Preț vechi: 982.56 lei
-14% Nou
Puncte Express: 1268
Preț estimativ în valută:
161.72€ • 167.98$ • 134.33£
161.72€ • 167.98$ • 134.33£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 03-17 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780521889957
ISBN-10: 0521889952
Pagini: 300
Ilustrații: 214 b/w illus. 18 tables
Dimensiuni: 182 x 255 x 19 mm
Greutate: 0.75 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
ISBN-10: 0521889952
Pagini: 300
Ilustrații: 214 b/w illus. 18 tables
Dimensiuni: 182 x 255 x 19 mm
Greutate: 0.75 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
Cuprins
1. Wireless signals; 2. Large-signal vector measurement techniques with NVNAs; 3. Device modeling and verification with NVNA measurements; 4. Memory effects in RF power transistors; 5. Interactive loadline-based design of RF power amplifiers; 6. Behavioral modeling; 7. Kurokawa theory of oscillator design and phase-noise theory; 8. Design, modeling and linearization of mixers, modulators and demodulators.
Descriere
Brings you up to speed with the latest advances in large-signal measurement techniques and nonlinear circuit design.