Nonlinear RF Circuits and Nonlinear Vector Network Analyzers: Interactive Measurement and Design Techniques: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Autor Patrick Roblinen Limba Engleză Hardback – iun 2011
Din seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
- 14% Preț: 765.36 lei
- 11% Preț: 585.64 lei
- 14% Preț: 807.39 lei
- 9% Preț: 656.12 lei
- 11% Preț: 465.89 lei
- 8% Preț: 479.80 lei
- 11% Preț: 447.67 lei
- 9% Preț: 605.27 lei
- 14% Preț: 759.97 lei
- 14% Preț: 734.30 lei
- 19% Preț: 502.41 lei
- 23% Preț: 1159.62 lei
- 9% Preț: 616.58 lei
- 35% Preț: 526.09 lei
- 23% Preț: 694.06 lei
- 12% Preț: 395.21 lei
- 20% Preț: 497.01 lei
- 22% Preț: 539.11 lei
- 24% Preț: 689.16 lei
- 24% Preț: 690.40 lei
Preț: 862.47 lei
Preț vechi: 1002.88 lei
-14% Nou
Puncte Express: 1294
Preț estimativ în valută:
165.05€ • 171.27$ • 137.96£
165.05€ • 171.27$ • 137.96£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 15-29 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780521889957
ISBN-10: 0521889952
Pagini: 300
Ilustrații: 214 b/w illus. 18 tables
Dimensiuni: 182 x 255 x 19 mm
Greutate: 0.75 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
ISBN-10: 0521889952
Pagini: 300
Ilustrații: 214 b/w illus. 18 tables
Dimensiuni: 182 x 255 x 19 mm
Greutate: 0.75 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
Cuprins
1. Wireless signals; 2. Large-signal vector measurement techniques with NVNAs; 3. Device modeling and verification with NVNA measurements; 4. Memory effects in RF power transistors; 5. Interactive loadline-based design of RF power amplifiers; 6. Behavioral modeling; 7. Kurokawa theory of oscillator design and phase-noise theory; 8. Design, modeling and linearization of mixers, modulators and demodulators.
Descriere
Brings you up to speed with the latest advances in large-signal measurement techniques and nonlinear circuit design.