X-Parameters: Characterization, Modeling, and Design of Nonlinear RF and Microwave Components: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Autor David E. Root, Jan Verspecht, Jason Horn, Mihai Marcuen Limba Engleză Hardback – 25 sep 2013
Din seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
- 14% Preț: 765.36 lei
- 11% Preț: 585.64 lei
- 14% Preț: 807.39 lei
- 9% Preț: 656.12 lei
- 11% Preț: 465.89 lei
- 8% Preț: 479.80 lei
- 14% Preț: 862.47 lei
- 11% Preț: 447.67 lei
- 9% Preț: 605.27 lei
- 14% Preț: 759.97 lei
- 19% Preț: 502.41 lei
- 23% Preț: 1166.82 lei
- 9% Preț: 616.58 lei
- 35% Preț: 526.09 lei
- 23% Preț: 694.06 lei
- 12% Preț: 395.21 lei
- 20% Preț: 497.01 lei
- 22% Preț: 539.11 lei
- 24% Preț: 689.16 lei
- 24% Preț: 690.40 lei
Preț: 734.30 lei
Preț vechi: 853.83 lei
-14% Nou
Puncte Express: 1101
Preț estimativ în valută:
140.53€ • 144.98$ • 118.93£
140.53€ • 144.98$ • 118.93£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 04-18 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780521193238
ISBN-10: 0521193230
Pagini: 233
Ilustrații: 154 b/w illus.
Dimensiuni: 178 x 252 x 15 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
ISBN-10: 0521193230
Pagini: 233
Ilustrații: 154 b/w illus.
Dimensiuni: 178 x 252 x 15 mm
Greutate: 0.64 kg
Ediția:New.
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Locul publicării:Cambridge, United Kingdom
Cuprins
1. S-parameters; 2. X-parameters; 3. Small-signal sensitivities in the X-parameters; 4. X-parameter measurements; 5. Multi-tone multi-port X-parameters; 6. Memory.
Recenzii
'This book is an excellent treatise by experts from Agilent on the assumption and use of x-parameters.' Alfy Riddle, IEEE Microwave Magazine
Notă biografică
Descriere
The definitive guide to X-parameters, written by the original inventors and developers.