Optical and Electronic Process of Nano-Matters: Advances in Opto-Electronics, cartea 8
Editat de Motoichi Ohtsuen Limba Engleză Hardback – 31 oct 2001
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 946.24 lei 6-8 săpt. | |
SPRINGER NETHERLANDS – 8 dec 2010 | 946.24 lei 6-8 săpt. | |
Hardback (1) | 951.91 lei 6-8 săpt. | |
SPRINGER NETHERLANDS – 31 oct 2001 | 951.91 lei 6-8 săpt. |
Preț: 951.91 lei
Preț vechi: 1160.86 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1428
Preț estimativ în valută:
182.16€ • 188.20$ • 151.53£
182.16€ • 188.20$ • 151.53£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 19 martie-02 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780792369875
ISBN-10: 0792369874
Pagini: 334
Ilustrații: XII, 334 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 21 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2001
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria Advances in Opto-Electronics
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
ISBN-10: 0792369874
Pagini: 334
Ilustrații: XII, 334 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 21 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2001
Editura: SPRINGER NETHERLANDS
Colecția Springer
Seria Advances in Opto-Electronics
Locul publicării:Dordrecht, Netherlands
Public țintă
ResearchCuprins
1 Electronic and Electromagnetic Properties in Nanometer Scales.- 2 Electron Transport in Semiconductor Quantum Dots.- 3 Electron Energy Modulation with Optical Evanescent Waves.- 4 Interactions of Electrons and Electromagnetic Fields in a Single Molecule.- 5 Theory of Electronic and Atomic Processes in Scanning Probe Microscopy.- 6 Tunneling-Electron Luminescence Microscopy for Multifunctional and Real-Space Characterization of Semiconductor Nanostructures.- 7 Near-Field Optical Spectroscopy of Single Quantum Dots.- 8 Chemical Vapor Deposition of Nanometric Materials by Optical Near-Fields: Toward Nano-Photonic Integration.- 9 Noncontact Atomic Force Microscopy.- 10 Correlation between Interface States and Structures Deduced from Atomic-Scale Surface Roughness in Ultrathin SiO2/Si System.- 11 Characterization of Molecular Films by a Scanning Probe Microscope.