Cantitate/Preț
Produs
Total produse
Vezi coșul
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979 de A. Benninghoven

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II: Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27–31, 1979: Springer Series in Chemical Physics, cartea 9

Editat de A. Benninghoven, C.A. Jr. Evans, R.A. Powell, R. Shimizu, H. A. Storms
en Limba Engleză Paperback – 13 dec 2011

Din seria Springer Series in Chemical Physics

Preț: 64088 lei

Preț vechi: 75397 lei
-15% Nou

Puncte Express: 961
Preț estimativ în valută:
12265€ • 12707$ • 10236£

Carte tipărită la comandă

Livrare economică 22 martie-05 aprilie

 Adaugă în coș

Wish list
Gift list
Am citit!
Adaugă în listă
Preluare comenzi: 021 569.72.76

Specificații

ISBN-13: 9783642618734
ISBN-10: 3642618731
Pagini: 320
Ilustrații: XIV, 300 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 17 mm
Greutate: 0.43 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1979
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Series in Chemical Physics

Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany

Public țintă

Research

Cuprins

I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr..- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.