Seminar on Stochastic Processes, 1981: Progress in Probability, cartea 1
Autor Cinlar, Getoor, Chungen Limba Engleză Paperback – 1982
Din seria Progress in Probability
- 15% Preț: 580.46 lei
- 15% Preț: 523.39 lei
- 15% Preț: 451.16 lei
- Preț: 389.49 lei
- Preț: 383.33 lei
- Preț: 388.13 lei
- Preț: 387.75 lei
- Preț: 393.52 lei
- Preț: 383.50 lei
- 15% Preț: 649.06 lei
- 15% Preț: 590.63 lei
- Preț: 387.75 lei
- Preț: 388.72 lei
- 15% Preț: 588.00 lei
- Preț: 402.00 lei
- Preț: 395.63 lei
- Preț: 391.79 lei
- Preț: 389.70 lei
- 15% Preț: 642.51 lei
- Preț: 391.99 lei
- 15% Preț: 655.45 lei
- 15% Preț: 644.82 lei
- Preț: 397.01 lei
- 18% Preț: 961.72 lei
- 15% Preț: 651.02 lei
- Preț: 385.62 lei
- 15% Preț: 646.43 lei
- Preț: 397.01 lei
- 18% Preț: 957.62 lei
- Preț: 402.00 lei
- 15% Preț: 638.76 lei
- Preț: 388.90 lei
- Preț: 399.12 lei
- 15% Preț: 634.32 lei
- Preț: 400.65 lei
- 15% Preț: 646.75 lei
Preț: 392.97 lei
Nou
Puncte Express: 589
Preț estimativ în valută:
75.20€ • 78.04$ • 62.86£
75.20€ • 78.04$ • 62.86£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 15-29 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780817630720
ISBN-10: 0817630724
Pagini: 252
Ilustrații: VI, 242 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 13 mm
Greutate: 0.53 kg
Ediția:1981
Editura: Birkhäuser Boston
Colecția Birkhäuser
Seria Progress in Probability
Locul publicării:Boston, MA, United States
ISBN-10: 0817630724
Pagini: 252
Ilustrații: VI, 242 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 13 mm
Greutate: 0.53 kg
Ediția:1981
Editura: Birkhäuser Boston
Colecția Birkhäuser
Seria Progress in Probability
Locul publicării:Boston, MA, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Feynman-Kac functional and the Schrödinger equation.- Two results on dual excursions.- Characterization of Lévy measures of inverse local times of gap diffusion.- Lévy systems and path decompositions.- Regular birth and death times.- Some results on energy.- Absolute continuity and the fine topology.- Representation of semimartingale Markov processes in terms of Wiener processes and Poisson random measures.