Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis: Methods of Surface Characterization, cartea 5
Editat de Alvin W. Czanderna, Theodore E. Madey, Cedric J. Powellen Limba Engleză Paperback – 6 dec 2010
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 951.77 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – 6 dec 2010 | 951.77 lei 6-8 săpt. | |
Hardback (1) | 958.25 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – 31 oct 1998 | 958.25 lei 6-8 săpt. |
Preț: 951.77 lei
Preț vechi: 1160.70 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1428
Preț estimativ în valută:
182.15€ • 189.46$ • 150.37£
182.15€ • 189.46$ • 150.37£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 12-26 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781441932990
ISBN-10: 1441932992
Pagini: 456
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1441932992
Pagini: 456
Ilustrații: XX, 430 p.
Dimensiuni: 152 x 229 x 24 mm
Greutate: 0.63 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Methods of Surface Characterization
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Photon Beam Damage and Charging at Solid Surfaces.- Electron Beam Damage at Solid Surfaces.- Ion Beam Bombardment Effects on Solid Surfaces at Energies Used for Sputter Depth Profiling.- Characterization of Surface Topography.- Depth Profiling Using Sputtering Methods.