Built-in-Self-Test and Digital Self-Calibration for RF SoCs: SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Autor Sleiman Bou-Sleiman, Mohammed Ismailen Limba Engleză Paperback – 22 sep 2011
Din seria SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
- 19% Preț: 429.88 lei
- Preț: 377.35 lei
- Preț: 380.07 lei
- Preț: 378.12 lei
- 20% Preț: 379.08 lei
- Preț: 377.18 lei
- 20% Preț: 234.68 lei
- 20% Preț: 232.43 lei
- Preț: 378.12 lei
- Preț: 377.18 lei
- 20% Preț: 231.41 lei
- Preț: 377.18 lei
- Preț: 377.95 lei
- Preț: 444.74 lei
- Preț: 382.36 lei
- Preț: 378.12 lei
- Preț: 378.92 lei
- 20% Preț: 232.43 lei
- Preț: 376.80 lei
- Preț: 377.18 lei
- Preț: 381.00 lei
- Preț: 376.43 lei
- Preț: 377.18 lei
- Preț: 378.54 lei
- 20% Preț: 321.20 lei
- Preț: 377.73 lei
- Preț: 341.75 lei
- Preț: 344.25 lei
- Preț: 379.09 lei
- 20% Preț: 324.64 lei
- Preț: 377.57 lei
- Preț: 378.71 lei
- 20% Preț: 321.66 lei
- 20% Preț: 230.85 lei
- Preț: 374.30 lei
- Preț: 375.45 lei
- Preț: 360.05 lei
- Preț: 381.43 lei
- Preț: 378.34 lei
- Preț: 376.22 lei
- 20% Preț: 323.99 lei
- Preț: 380.07 lei
- Preț: 375.62 lei
- 20% Preț: 321.20 lei
- Preț: 377.18 lei
- 5% Preț: 361.80 lei
- Preț: 378.12 lei
- Preț: 375.07 lei
- Preț: 376.22 lei
Preț: 377.35 lei
Nou
Puncte Express: 566
Preț estimativ în valută:
72.22€ • 75.11$ • 60.43£
72.22€ • 75.11$ • 60.43£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 14-28 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781441995476
ISBN-10: 1441995471
Pagini: 108
Ilustrații: XVII, 89 p. 70 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 6 mm
Greutate: 0.16 kg
Ediția:2012
Editura: Springer
Colecția Springer
Seria SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1441995471
Pagini: 108
Ilustrații: XVII, 89 p. 70 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 6 mm
Greutate: 0.16 kg
Ediția:2012
Editura: Springer
Colecția Springer
Seria SpringerBriefs in Electrical and Computer Engineering
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Introduction and Motivation.- Radio Systems Overview: Architecture, Performance and Built-in-Test.- Efficient Testing for RF SoCs.- RF Built-in-Self-Test.- RF Built-in-Self-Calibration.- Conclusions.
Caracteristici
Applies Built-in-Self-Test (Bi. ST) and Built-in-Self-Calibration (Bi. SC) to real applications in nanometer wireless radio design Provides on-chip testing capabilities as well as on-the-fly calibration abilities to render mixed-mode designs robust from the outset Reduces significantly high volume test costs of RF and mm.